電波暗室主要用于輻射試驗，避免外界電磁波信號對測試信號造成干擾，同時(shí)電磁波吸波材料可以減小由于墻壁和天花板的反射對測試結果造成的多徑效應影響等。由此可見(jiàn)，構建電波暗室具有諸多優(yōu)勢。下面就著(zhù)重為大家介紹一下影響電波暗室性能指標的因素有哪些：

影響其性能指標的因素主要包括：暗室參數、天線(xiàn)測量的誤差以及其他誤差等。

影響暗室性能指標的因素是多元化的，也是很復雜的，在利用光線(xiàn)發(fā)射法和能量物理法則對暗室性能進(jìn)行仿真計算時(shí)，需要考慮電波的傳輸去耦，化去耦，標準天線(xiàn)的方向圖因素，吸收材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影響。但在實(shí)際的工程設計過(guò)程中，往往以吸收材料的性能作為暗室性能的關(guān)鍵決定因素。

1)交叉化度：由于暗室結構的不嚴格對稱(chēng)、吸收材料對各種化波吸收的不一致性以及暗室測試系統等因素使電波在暗室傳播過(guò)程中產(chǎn)生化不純的現象。如果待測試天線(xiàn)與發(fā)射天線(xiàn)的化面正交和平行時(shí)，所測試場(chǎng)強之比小于-25dB，就認為交叉化度滿(mǎn)足要求。

2)多路徑損耗：路徑損耗不均勻會(huì )使電磁波的化面旋轉，如果以來(lái)波方向旋轉待測試天線(xiàn)，接收信號的起伏不超過(guò)+-0.25 dB，就可忽略多路徑損耗。

3)場(chǎng)均勻性：在暗室靜區，沿軸移動(dòng)待測試天線(xiàn)，要求起伏不超+-2dB；在靜區的截面上，橫向和上下移動(dòng)待測天線(xiàn)，要求接收信號起伏不超過(guò)+-0.25 dB。

還可能導致天線(xiàn)測量產(chǎn)生誤差的因素有：

低頻時(shí)與電抗近場(chǎng)的耦合可能比較顯著(zhù)，測量天線(xiàn)的對準誤差，其他干擾信號，測試電纜所引起的誤差等。

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